二次元影像測(cè)量?jī)x的誕生是在傳統(tǒng)數(shù)顯測(cè)量投影儀基礎(chǔ)上一次質(zhì)的飛躍,是測(cè)量投影儀的升級(jí)換代版。目前市面上的二次元影像測(cè)量?jī)x多種多樣,讓人眼花繚亂,但根據(jù)測(cè)量方式的劃分,只有兩種類(lèi)型:接觸式影像測(cè)量?jī)x和非接觸式影像測(cè)量?jī)x。
區(qū)分接觸式影像測(cè)量?jī)x和非接觸式影像測(cè)量?jī)x,就是從二次元影像測(cè)量?jī)x的測(cè)頭方面來(lái)區(qū)分的。二次元影像測(cè)量?jī)x在測(cè)量的過(guò)程中,測(cè)頭與被測(cè)工件的關(guān)系是區(qū)分二者的主要依據(jù)。接觸式影像測(cè)量?jī)x與非接觸式影像測(cè)量?jī)x由于工作原理不同,它們的應(yīng)用也有所差別。
接觸式影像測(cè)量?jī)x是針對(duì)機(jī)械業(yè),是較大、較立體的工件,較硬的工件,需要3D組件的計(jì)算,可作3D坐標(biāo)系統(tǒng),可同時(shí)量5個(gè)面,需較長(zhǎng)的學(xué)習(xí)時(shí)間,容易撞機(jī),須有精密治具,二次元影像儀量測(cè)才會(huì)快,影像測(cè)量?jī)x一次只能量一個(gè)工件,要量曲線,需搭配掃描式探頭系統(tǒng)及軟件,誤差來(lái)源為二次元影像儀儀器及探頭系統(tǒng),探針為耗材。
非接觸式影像測(cè)量?jī)x主要是針對(duì)電子業(yè),需要放大量測(cè)的工件,是不可觸摸的工件,需要大量量測(cè),影像測(cè)量?jī)x的坐標(biāo)系統(tǒng)的設(shè)定較容易,一次只能量一面,程序較容易寫(xiě),不易撞機(jī),大量量測(cè)較快,可同時(shí)量多個(gè)工件,曲線的量測(cè)容易,(PROFILER軟件)無(wú)法處理曲面的量測(cè),誤差來(lái)源為儀器本身,耗材只有燈泡。
不論是非接觸影像測(cè)量?jī)x還是接觸式影像測(cè)量?jī)x,都經(jīng)常被應(yīng)用到二維測(cè)量中。對(duì)于二維測(cè)量,二次元影像測(cè)量?jī)x有著其它檢測(cè)儀器所不能比擬的優(yōu)勢(shì)。